手持式X射線合金分析儀X-50
全 新 設 計 的X-50 是 市 場 上 表 現 **的 手 持 式XRF, 使 用 經 典 的Super Pin探 測 器 技 術 。 這 款 高 性 價 比 的XRF 為 檢 測 器 平 臺 提 供 了 分 析 性 能 和 速 度 ， 運 行 速 度 為 其 他 品 牌 的 2 倍 或 更 高 。

外形尺寸

238mmx283mmx       84mm

激發源

標配4W,40kV銠靶X射線光管，50 kV可選

探測器

7mm2PiN二極管探測器(有效區),在5.95 Mn K-alpha線處的FWHM為 200 eV分辨率。

應用領域

合金分析，貴金屬，土壤，礦石，汽車三元催化等

X射線濾光片

單個濾光片用于合金分析；多個濾光片用于貴金屬，土壤，礦石，汽車三元催化

使用環境溫度范圍

-12℃-55℃

分析范圍

根據不同應用要求可測量24種元素，Ti,V,Cr,Mn,Fe,Co,Ni;,Cu,Zn,W,Ta, Hf, Re,Se,Au,Pb,Bi,Zr,Mo,Pd,Ag,Cd,Sn,Sb.也可根據用戶要求添加其他元素。

運算單元和主處理器

1.2GHz四核ARM Cortex A5364/32位，RAM:2GB LP-DDR3,

存儲：16GB eMMC(存儲)

脈沖處理器

2位數模轉換，80MSPS采樣率，8K通道MCA,USB2.0高速數據傳輸至主

處理器；FPGA應用數字濾波用于高吞吐量脈沖處理(20 nS-24 uS峰值時間)。

電源

插拔式可充電鋰電池，可在設備內部充電或使用外部充電器充電， 交流電源。支持熱插拔更換電池。

顯示屏

3.5英寸(88.9毫米)彩色電容式觸摸屏—400 MHz Qualcomm

Adreno 3062D/3D圖形加速器

樣品監測

內部攝像頭，用于在分析前和分析期間查看樣品，以便正確對準樣品。 微距相機，用于掃描二維碼或條形碼以及照片文檔和報告生成。

通訊/數據傳輸

Wi-Fi、藍牙、USB可連接到大多數設備，包括SciAps Profile Builder PC軟件。 提供SciAps云數據管理選項。

校準

FP基本參數法

校準檢查

外部316不銹鋼標準樣品，用于校準驗證和能量標度驗證

安全性

密碼保護使用(用戶級別)和內部設置(管理員)

雙攝像頭模式

內部高分辨率相機用于樣品查看、焊接等。微距相機用于照片文檔、讀取和存儲 2D/3D條形碼和QR二維碼。

規范

CE,RoHS,USFDA認證，符合加拿大RED Act法規。